年度100
    等級SCI
    論文名稱Inference from lumen degradation data under Wiener diffusion process
    全部作者Tsai, Tzong-ru; Lin, Chin-wei; Sung, Yi-ling; Chou, Pei-ting; Chen, Chiu-ling; Lio, Yuh-long
    卷數IEEE Transactions on Reliability 61(3), p.710-718
    ISSN(ISBN)0018-9529
    使用語言
    備註期刊論文

    建議最佳瀏覽 Microsoft IE 10 以上/Google Chrome/Mozilla Firefox 或相容W3C網頁標準之瀏覽器

    更新日期 : 2024/05/07